全国服务咨询热线:

18811105083

当前位置:首页  >  产品中心  >  三维形貌仪  >  三维表面形貌测量仪  >  μCMM高精度光学坐标测量仪

高精度光学坐标测量仪

简要描述:高精度光学坐标测量仪μCMM是奥地利Bruker Alicona公司研发生产的集样品尺寸特性,位置,形状和粗糙度测量功能于一体的全程高精度测量系统。

  • 产品型号:μCMM
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2024-05-14
  • 访  问  量:2432

详细介绍

高精度光学坐标测量仪μCMM的突出特点:

. 高精度测量公差非常小的部件 
. μCMM是同类产品中精确很高的纯光学微坐标测量系统。 
. 用户将触觉坐标测量技术和光学表面测量技术的优势结合起来,只用一个传感器测量零件的尺寸、位置、形状和粗糙度。 
. μCMM提供了更高几何精度的光学三维测量,能够测量大部件上的小表面细节,并精确确定这些单独测量的相对位置。 
. 可测量表面的光谱包括所有常见的工业材料和复合材料,如塑料、PCD、CFRP、陶瓷、铬、硅。 
. 材料从哑光到抛光各种反光成分都可以测量。 
. 操作简单是通过单按钮解决方案,有一个集自动化和人体工程学控制元素特别设计的控制器。 
. 带线性驱动的空气轴承轴可实现无磨损使用和高精度、以及更快速测量。这也使得μCMM非常适合在生产中长期使用。

 

高精度光学坐标测量仪μCMM的技术参数:

产品咨询

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7

全国统一服务电话

010-62930470

电子邮箱:info@dataphys.com.cn

公司地址:北京市海淀区知春路甲63号51号楼卫星大厦1208室

公众号