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关于三维形貌仪的轴向色差原理讲解

更新时间:2021-06-17       点击次数:1682
   实际生产中微观上的表面形貌对工程零件的许多技术性能的评价具有直接的影响,而且表面三维评定参数由于能更全面、更真实地反映零件表面的特征及衡量表面的质量而越来越受到重视,因此三维形貌仪的测量就越显重要。通过对三维形貌的测量可以比较全面地评定表面质量的优劣,进而确认加工方法的好坏及设计要求的合理性,这样就可以反过来通过指导加工、优化加工工艺以加工出高质量的表面,确保零件使用功能的实现。
  三维形貌仪的光源发出的光经过扩束准直后经分光棱镜后分成两束,一束经被测表面反射回来,另外一束光经参考镜反射,两束反射光终汇聚并发生干涉,显微镜将被测表面的形貌特征转化为干涉条纹信号,通过测量干涉条纹的变化来测量表面三维形貌。仪器采用白光轴向色差原理对样品表面进行快速、重复性高、高分辨率的三维测量,测量范围可从纳米级粗糙度到毫米级的表面形貌,台阶高度,给MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料,光学元件、陶瓷和先进材料的研发和生产提供了一个准确的、价格合理的计量方案。
  三维形貌仪适用于各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。多项式配置、数据配置、扫描、屏蔽和插值,交互缩放,X-Y和线段剖面,三维线路、混合和固定绘图,用于阶越高度测量的地区差异绘图。

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